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渦流涂鍍層測(cè)厚儀工作原理
日期：2025-06-29 15:08
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摘要：
1. 基本原理
渦流涂鍍層測(cè)厚儀的基本工作原理是,當(dāng)測(cè)頭與被測(cè)式樣接觸時(shí),測(cè)頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng), 使置于測(cè)頭下的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導(dǎo)體與測(cè)頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù). 即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場(chǎng)會(huì)改變測(cè)頭參數(shù),而測(cè)頭參數(shù)變量的大小,并將這一電信號(hào)轉(zhuǎn)換處理,即可得到被測(cè)涂鍍層的厚度.
(1) 覆蓋層厚度大于25μm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
(2) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)量測(cè)有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
(3) 任何一種測(cè)厚都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,量測(cè)才不會(huì)受基體金屬厚度的影響;
(4) 渦流涂鍍層測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的量測(cè)是不可靠的.
(5) 試樣的曲率對(duì)量測(cè)有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
(6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響量測(cè)的精度,粗糙度增大,影響增大;
(7) 渦流涂鍍層測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此量測(cè)前應(yīng)**測(cè)頭和覆蓋層表面的污物;量測(cè)時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸.
渦流涂鍍層測(cè)厚儀的基本工作原理是,當(dāng)測(cè)頭與被測(cè)式樣接觸時(shí),測(cè)頭裝置所產(chǎn)生的高頻電磁場(chǎng), 使置于測(cè)頭下的金屬導(dǎo)體產(chǎn)生渦流,其振幅和相位是導(dǎo)體與測(cè)頭之間非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù). 即該渦流產(chǎn)生的交變電磁場(chǎng)會(huì)改變測(cè)頭參數(shù),而測(cè)頭參數(shù)變量的大小,并將這一電信號(hào)轉(zhuǎn)換處理,即可得到被測(cè)涂鍍層的厚度.
(1) 覆蓋層厚度大于25μm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
(2) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)量測(cè)有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
(3) 任何一種測(cè)厚都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,量測(cè)才不會(huì)受基體金屬厚度的影響;
(4) 渦流涂鍍層測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的量測(cè)是不可靠的.
(5) 試樣的曲率對(duì)量測(cè)有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
(6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響量測(cè)的精度,粗糙度增大,影響增大;
(7) 渦流涂鍍層測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此量測(cè)前應(yīng)**測(cè)頭和覆蓋層表面的污物;量測(cè)時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸.
